Filmetrics 薄膜测厚仪 F10-HC 膜厚测量仪
有价格优势的先进薄膜测量系统
以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统，能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度，加上F10-HC软件特有的先進模拟演 算法的设计，能够在厚膜中测量单层与多层(例如：底漆或硬涂层 等)。
前所未見的简易操作界面
现在，具有新样板模式功能的F10-HC将更容易使用，这个功能允许使用者汇入样品的影像(请参考下页)，并直接在影像上定义测量位置。系统会自动通知使用者本次测量结果是否有效，并将测量的结果显示在汇入的影像上让使用者分析。
不需要手动基准校正
F10-HC现在能执行自动化基准矫正以及设置自己的积分时间，这个创新的方法不需要频繁的执行基准矫正就可以让使用者立即的执行样本的测量 。通過自动设置积分时间完成自动校正，这項發明可以让使用者立即的执行样本的测量而不再需要频繁的执行校正程序。
背面反射干扰
背面反射干扰对厚度测量而言是一个光学技术的挑战，具有F10-HC系统的独特接触式探头能将背面反射干扰的影响化，使用者能以较高的精准度来测量涂层厚度。
Filmetrics优势
? 嵌入式在线诊断
? 离线分析软件
? 精细的历史数据功能，帮助用户有效的存储，重现与绘制测量结果
现场演示/支持
点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示！请联系我们，我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易！
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